2026年4月27日下午，中德智造学院博士后创新实践基地首位博士后张汉宏期满考核报告会在能工楼216会议室举行。本次考核聚焦高端显示制造中聚合物偏光片“极细微透明缺陷”检测这一行业瓶颈难题，全面检验了张汉宏博士后在站两年期间的研究成果与科研创新能力。

考核报告会现场

本次考核会汇聚了来自深圳大学、深圳技术大学及我校的权威专家学者。会议邀请了深圳技术大学副校长邓元龙教授、深圳大学物理与光电工程学院宋军教授担任校外考核专家；我校中德智造学院院长彭旭昀、工业互联网教研室主任罗飞、智能光电教研室教师孙智娟及科研与技术服务处刘飞老师等参加会议，会议由彭旭昀院长主持。

会议伊始，彭旭昀院长代表学院对各位专家的到来表示热烈欢迎，并简要介绍了张汉宏博士后在站期间的整体工作表现。彭院长指出，作为基地招收的首位博士后，张汉宏的科研工作紧密结合了学校在光学检测领域的学科优势与产业需求，是校企协同、产教融合培养高层次技术技能人才的生动实践。

在考核汇报环节，张汉宏博士后以《基于偏振光成像辅助的薄膜介观缺陷检测方法研究》为题，系统汇报了其在站期间的科研攻关成果。

张汉宏博士后作研究汇报

报告中，张汉宏详细阐述了他所构建的“缺陷—偏振—结构光—曝光响应”多物理场耦合模型。针对传统机器视觉难以捕捉偏光片微压痕、界面分层等透明缺陷的痛点，他创新性地引入了偏振光成像、结构光调制与饱和成像协同增强的研究思路。同时指出，透明缺陷的显现并非随曝光单调增强，而是存在“增强—峰值—过饱和衰减”的非单调窗口。基于此，他开发了一套高保真的MATLAB数值仿真平台，成功复现了高曝光条件下缺陷的非线性演化规律，并对条纹周期、曝光窗口等关键参数进行了联合寻优。实验验证显示，通过参数优化，缺陷的成像对比度由0.0273显著提升至0.0616，提升幅度超过120%，为工业级高灵敏度自动检测提供了扎实的理论依据与参数设计支撑。

张汉宏博士后作技术路线汇报

在站期间，张汉宏博士后取得了丰硕的研究成果，并获聘深圳市特聘岗位C岗特聘人才。他以第一作者在《Journal of Materials Chemistry A》、《Optics and Laser Technology》等国际权威SCI期刊上发表高质量论文数篇，申请了发明专利《一种基于结构光仿真的偏光片透明缺陷检测方法及装置》，并主持了相关科研项目。其研究不仅从物理机理上解释了“为什么特定偏振与结构光配置能增强缺陷对比度”，更在技术上实现了从经验调参向机理驱动优化的转变。

汇报结束后，考核专家组对张汉宏的课题研究进行了质询与评议。专家组一致认为，该课题选题前沿，研究路线清晰，尤其是将偏振传输、结构光仿真与高曝光饱和响应纳入统一框架，具有重要的科学意义与工程应用价值。合作导师邓元龙教授与宋军教授分别对其在站期间的科研能力进步和严谨学风给予了高度肯定。

经过评议，考核组专家一致同意张汉宏博士后以优秀的考核成绩顺利通过期满考核。

专家组评议

此次博士后出站考核的顺利完成，标志着我校与深圳大学在高层次人才联合培养方面取得了实质性突破。未来我院将持续依托博士后创新实践基地，深化与高水平大学的科研合作，着力攻克智能制造与光电检测领域的“卡脖子”技术难题，为服务高端显示产业高质量发展贡献“深城职”智慧。

与会人员合影留念

中德智造学院

2026年4月28日